安捷倫Agilent 7700 ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀

　　環(huán)境監(jiān)測：用于水質、土壤、空氣等環(huán)境樣品的痕量元素分析。

　　地質勘探：用于礦物、巖石等樣品中元素的定量分析。

　　材料科學：用于金屬、陶瓷、塑料等材料中元素的檢測。

　　生物醫(yī)學：用于生物樣品中微量元素的檢測和分析。

　　食品安全：用于食品、藥品等樣品中添加劑或污染物的檢測。

　　高性能：ICP-MS7700在各方面性能上都有顯著提升，包括分析速度更快、操作更簡便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果更佳、應用面更廣、維護更方便。

　　第三代八極桿碰撞/反應池系統（ORS3）：7700系列配備了全新的第三代八極桿碰撞/反應池系統（ORS3），能夠僅使用氦氣碰撞即可消除所有可能的質譜干擾，提供了高準確性和高靈敏度的分析結果。

　　數字控制式射頻匹配的RF發(fā)生器：這一創(chuàng)新設計進一步提升了儀器的穩(wěn)定性和耐用性。

　　多種型號選擇：ICP-MS7700系列包括7700x和7700s等多個型號，其中7700x適合通用型高端配置，適用于大批量樣品分析；7700s則專為半導體行業(yè)設計，具有針對性的強大功能。

安捷倫ICPMS7700 型號應用領域

　　靈敏度：低質量數Li(7)的靈敏度為50 Mcps/ppm，中質量數Y(89)的靈敏度為160 Mcps/ppm（7700x）或240 Mcps/ppm（7700s），高質量數Tl(205)的靈敏度為80 Mcps/ppm（7700x）或120 Mcps/ppm（7700s）。

　　檢測限：低質量數Be(9)的檢測限為0.5 ppt，中質量數In(115)的檢測限為0.1 ppt，高質量數Bi(209)的檢測限為0.1 ppt。

　　氧化物干擾：CeO+/Ce+的氧化物干擾為1.5%（7700x）或3.0%（7700s）。

　　雙電荷干擾：Ce2+/Ce+的雙電荷干擾為3.0%。

　　同位素比精度：RSD(107Ag/109Ag)的同位素比精度為0.1%。

　　質譜范圍：質譜范圍為2 - 260 amu。

　　豐度靈敏度：低質量端的豐度靈敏度為5 x 10^-7，高質量端的豐度靈敏度為1 x 10^-7。

　　此外，安捷倫ICP-MS 7700的截取錐基座由不銹鋼或黃銅制成，確保截取錐具有正確的運行溫度，防止因過熱或過冷導致的性能下降。